在科研探索、材料研發(fā)、考古文博、電子制造等多領(lǐng)域，微觀結(jié)構(gòu)的完整性、孔隙分布、內(nèi)部缺陷等特征，直接決定研究方向、產(chǎn)品性能與成果價值。傳統(tǒng)微觀檢測依賴切片、打磨等破壞性手段，易造成樣品損壞、數(shù)據(jù)失真，難以還原微觀結(jié)構(gòu)的真實狀態(tài)，一款兼具無損檢測、高分辨成像、三維全域解析優(yōu)勢的X射線顯微CT，成為突破微觀觀測瓶頸、賦能多領(lǐng)域創(chuàng)新的核心裝備。
我們的X射線顯微CT，以“微影透視、無損精準(zhǔn)、全域適配”為核心定位，深度整合X射線發(fā)射、高精度探測、三維重構(gòu)等前沿技術(shù)，依托不同物質(zhì)對X射線的衰減差異原理，通過射線源發(fā)射X射線穿透樣品，探測器捕捉不同角度的衰減信號，經(jīng)計算機(jī)算法重構(gòu)三維數(shù)據(jù)體，實現(xiàn)對樣品從表面到內(nèi)部的觀測，契合ISO、ASTM等相關(guān)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，為多領(lǐng)域提供一站式微觀檢測與分析解決方案。
無損高分辨成像，還原微觀本真狀態(tài)。設(shè)備搭載高性能X射線源與制冷型探測器，分辨率可達(dá)0.5μm，可精準(zhǔn)捕捉亞微米級微觀細(xì)節(jié)，哪怕是細(xì)微孔隙、微小缺陷也能清晰呈現(xiàn)，檢測精度遠(yuǎn)超傳統(tǒng)微觀觀測設(shè)備。核心優(yōu)勢在于全程無損檢測，無需對樣品進(jìn)行切片、打磨等預(yù)處理，保留樣品原有結(jié)構(gòu)與完整性，避免破壞性檢測造成的研究誤差，尤其適配珍貴樣品、易損材料的微觀分析，讓每一處微觀特征都真實可溯。
三維全域解析，解鎖微觀深層價值。區(qū)別于傳統(tǒng)二維觀測的局限性，X射線顯微CT可實現(xiàn)三維重構(gòu)與多維度切片分析，生成清晰的三維可視化模型，支持任意方向、任意位置的切片觀測，同時可通過專業(yè)軟件進(jìn)行定量分析，精準(zhǔn)計算孔隙率、體積占比、缺陷尺寸等核心參數(shù)，實現(xiàn)“可視化觀測+定量化分析”雙重賦能，為科研探索與產(chǎn)品優(yōu)化提供科學(xué)量化依據(jù)，破解傳統(tǒng)檢測“只能看、不能算”的痛點。
智能便捷操控，提升微觀檢測效能。系統(tǒng)搭載交互式觸控操作界面，操作直觀易懂，無需專業(yè)人員復(fù)雜培訓(xùn)，一鍵即可啟動掃描、成像、重構(gòu)全流程。支持多組掃描參數(shù)預(yù)設(shè)與存儲，可根據(jù)不同樣品特性（密度、尺寸）自定義掃描方案，同時配備散射降噪技術(shù)，有效抑制掃描過程中的噪音干擾，提升成像清晰度。掃描數(shù)據(jù)支持DICOM、STL等多種格式導(dǎo)出，可無縫對接后續(xù)分析軟件與PACS系統(tǒng)，便于數(shù)據(jù)復(fù)盤、共享與深度分析。
全域適配多場景，賦能多領(lǐng)域創(chuàng)新升級。設(shè)備采用模塊化設(shè)計，可靈活適配不同尺寸、不同類型的樣品，涵蓋材料、生物、電子、考古等多個領(lǐng)域：科研領(lǐng)域，助力地質(zhì)巖石、生物組織的微觀結(jié)構(gòu)研究；材料領(lǐng)域，檢測復(fù)合材料、陶瓷等內(nèi)部缺陷與結(jié)構(gòu)分布；電子領(lǐng)域，排查芯片、元器件的內(nèi)部封裝隱患；考古領(lǐng)域，無需破損珍貴文物，即可透視陶片、器物內(nèi)部的隱秘痕跡，為考古研究提供新路徑；醫(yī)療科研領(lǐng)域，可用于骨組織等微觀結(jié)構(gòu)分析，助力相關(guān)研究突破。
匠心筑品守初心，精準(zhǔn)賦能啟新程。我們的X射線顯微CT采用工業(yè)級耐用材質(zhì)，經(jīng)過嚴(yán)苛的抗干擾、穩(wěn)定性測試，可適應(yīng)實驗室潔凈場景與復(fù)雜工業(yè)環(huán)境，運行穩(wěn)定、使用壽命長。以科技解鎖微觀密碼，以精準(zhǔn)賦能創(chuàng)新發(fā)展，助力科研工作者突破觀測瓶頸，推動多領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)高質(zhì)量升級。
更新時間：2026-02-04
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